発明の名称
高分子材料の劣化诊断方法
登録番号
特许第5550034号
登録日
2014年5月30日
共有者
株式会社明电舎
技术概要
【课题】高分子材料表面における电位分布の変化が起こる前の早期の段阶で高分子材料の劣化を発见する。【解决手段】高分子材料表面の物理化学的変化量を定量することにより前记高分子材料の劣化を诊断する。前记物理化学的変化量の定量としては前记高分子材料表面上の亲水性化学种を分光分析による定量がある。前记分光分析としては赤外线分光分析またはラマン分光分析が挙げられる。前记亲水性化学种としてはヒドロキシル基、水素还元されたフェニル基、カルボキシル基、硫酸イオンが例示される。前记物理化学変化量の定量として高分子材料表面の単位面积当たりの平均表面电位分布の测定が挙げられる。前记平均表面电位分布の测定としては原子间力顕微镜像による测定法が挙げられる。
図
提供方法
特许の利用
详细説明
なし